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台式扫描电镜

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详细介绍

• 标配高性能二次电子及4分割背散射探头

• 一体集成式EDS探头，成像同时采集EDS结果

• 标配低真空模式成像功能

• 全自动马达控制及优中心倾转设计样品台

• 配备性能优化灯丝

• 直观友好用户界面设计

• 低维护成本

NANOS以高性价比提供高分辨率SEM成像和同步快速元素分析(EDS)功能于一体，安装简单、使用及维护方便。

NANOS 台式扫描电镜

NANOS是一款全面且高性价比的台式扫描电子显微镜（SEM）。它采用zui新技术进行设计，提供快速高质量的SEM成像和元素分析。它的设计先进且现代，非常适合科学研究、产品研发和工业用户使用。

探测器

NANOS标配二次电子探测器（SED）和背散射电子探测器（BSD）。BSD具有4象限检测功能。通过使用不同区域信号的组合，能够实现样品的成分或形貌细节du立成像，以及通过从多个方向突出显示表面而具有“投影成像效果”的图像。

元素分析

NANOS配备了一体式集成硅漂移能量色散X射线探测器(EDS) 。通过用户界面，用户可以选择EDX点分析或实时元素面扫描。

优中心样品台

NANOS是台式扫描电镜中wei一一家标配优中心设计样品台，能够通过用户控制界面实现电动XY轴样品台移动，在SEM成像模式下可采用优中心设计样品台倾转实现样品倾斜观察，且样品始终保持聚焦状态，无需重新对焦，用户界面实时显示jing确样品台倾斜角度，zui大倾斜角度为55°。

导航相机

NANOS在进样时，标配的光学导航相机会自动对样品进行拍照实现样品精准导航。即便在高倍下，用户可以轻松确定样品位置。

低真空成像

NANOS标配低真空成像功能，低真空成像模式能够有效减少或消除样品荷电对成像的影响。当在高真空模式下观察不导电的样品时，电子积聚在样品表面，会导致严重荷电现象，影响样品观察。

用户操作界面

NANOS软件界面始终将SEM图像放在屏幕的中心，通过直观的软件界面进行简单设置，即可完成样品拍摄。该软件为仅需快速简单SEM成像的人提供简易模式，同时也为深入进行样品分析需求提供gao级模式。用户可以通过无线鼠标和键盘完全控制NANOS，并可以通过iPad实现设备远程操控。导航摄像头（NavCam）始终处于启用状态，能够确保用户准确知道观察样品的对应位置。

主要技术特点

丰富的标准配置： NANOS标配二次电子探头（SED）、四分割高性能背散射探头（BSD）、一体式集成EDS和优中心设计样品台。

设计精良：

NANOS采用了可靠的现代设计，并采用了zui新的成像技术和成分分析探测器。

售后维护方便：

NANOS的设计使您可以轻松进行维护和升级，这些维护和升级可以在您的场所完成，无需售后工程师上门。

可靠性高：

凭借出色的稳定性和较小的占地面积，NANOS的架构确保了它可以在非实验室环境中使用，满足各种现场工况成像需求。

多操作模式选择：

在基础模式下，无需操作经验，NANOS都能在短时间内完成扫描电镜成像分析。高级模式为详细分析提供了进一步的功能。

加速电压

覆盖1kV至20kV可调加速电压，可确保高速EDS分析和面扫，准确识别样品中的元素成分及含量。

设备维护

NANOS的开发以zui佳售后服务体验为核心，采用可拆卸面板、模块化组件设计、整机仅需一块控制板和少量移动部件构成，可将售后服务要求降至最低。 NANOS的du特之处在于真空室内没有移动部件，由于这种巧妙的设计，样品污染的风险大大消除。

电子光源

NANOS采用强大的热发射钨灯丝电子源，由电磁线圈透镜和静电偏转器控制实现电子束扫描。使用“eco” 设置，灯丝寿命可以延长数百小时，并且仍然可以生成高分辨率图像。任何用户都可以du立用很简单的对准工具更换灯丝，确保zui短的停机时间。无需等待服务工程师来上门更换。

技术参数

图像模式	光学	放大倍数范围: 2 – 12x
	电子束	放大倍数范围: 50 – 200,000x
	分辨率	<8 nm
成像方式	光学	明场
	电子束	优化钨灯丝 (tungsten)
	加速电压	默认: 1, 2, 5, 7, 10, 15 & 20 kV，可调范围介于1和20kV之间
探测器		二次电子探测器 (SED)
		4分割被散射电子探测器 (BSD)
		一体化集成X射线探测器(EDS)
数字成像控制		集成式彩色数字导航相机
图像存储格式		JPEG, TIFF, PNG, BMP
用户界面		通信、成像和及分析均由通过无线鼠标和键盘进行控制的单个窗口软件即可支持远程控制（如iPad）支持基础以及gao级模式
数据存储		网络、USB、zhuan用工作站
样品台		优中心样品台，倾转范围-15°～+40°
		马达控制X、Y轴移动范围: 25 X 25 mm
样品尺寸		25 mm 直径钉台，zui大支持60 mm 直径
EDS 参数	探测器类型	Si漂移探测器 (SDD), 电制冷
	探测窗口面积	30 mm2
	能量分辨率	@ Mn Kα < 127 eV
	最大计数率	300,000 cps
	硬件集成	一体嵌入式，直接集成于NANOS 用户界面
软件		EDS分析以及面扫描结果导出功能
系统参数	主机尺寸	280mm (w) x 630mm (d) x 550mm (h)
	重量	60 kg
	真空泵	无油真空泵以及涡轮分子泵
	真空模式	高真空模式（传统SEM）低真空模式0.4mbar（低真空SEM）通过用户界面控制真空度
	工作站	带有27英寸显示器的预配置一体机。安装SEM成像和EDS分析软件

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